Raytrex 41000 

自動儀器系統整合測試方案


Raytrex 41000系列是儀器整合的自動化測試系統,透過挑選合適儀器及探針台,使用其所支援的控制界面如GPIB、LAN,及控制指令 (SCPI),搭配 Raytrex 軟體達到平行化及自動化測試。 Raytrex 41000 已廣泛使用在面板廠及半導體廠的 WAT/TEG 測試及元件 CP 測試,滿足使用者於實驗室及產線的各種儀器整合量測需求。

Mobirise
方案
客戶實例 元件及測項
 方案特色
MEMS
A公司8吋廠CP
TWS麥克風元件之CV
整合4台 LCR Meter 可彈性選擇平行度
LCR: Keysight E4980A
面板
兩岸各大面板廠Array TEG
面板TEG之IV, CV
每張針卡(測試頭)分別對應不同之 SMU&LCR         Meter, 支援1~6張針卡平行測試
SMU: Keysight E5270B/B1500A
SWM: Keysight B2201A/E5250A
LCR: Keysight E4980A
功率
元件
兩岸數個6吋及8吋廠WAT
功率元件如MOSFET/GaN IGBT之IV,CV
將 HV SMU及HV Switch整合為自動化方案
HV SMU: Keysight B1505A
HV SWM: Keithley 707/708, Star Taurus
射頻
元件
A公司8吋廠, B公司12吋廠CP
RF元件之S參數
將 Box NA 或 PXI NA 整合為自動化方案
NA: Keysight E5071C/M980xA

WAT, 參數測試, CP, TEG, Parametric Test, 系統整合, Power Device, 功率元件, GaN, 氮化鎵, Sic, 碳化矽, IGBT, RF Device, 射頻元件, GaAs, 砷化𪿭, 化合物半導體, MEMS, TWS, 4062, 4070, 4071A, 4072A, 4072B, 4073A, 4073B, 4080, 4082A, 4082F, 4770, 4771A, 4772A  41000, Auto-HV, WAT-HV, Auto-RF, WAT-RF, Auto-Cal

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