Keysight 4080/4770 系列參數測試機


由 HP4060 系列至 Agilent 4070 系列以來, Keysight 的電性參數測試系統 (WAT Tester) 是業界的標竿。全世界的各大半導體廠皆長期大量採用以作為元件參數測試的基準。目前最新的世代是4080及4770系列。若您想進一步了解請與 Keysight 或我們聯絡。

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WAT, 參數測試, TEG, Parametric Test, SMU, CMU, LCR, DVM, Pulse Generator, PG, spectrum analyzer, IV, CV, QSCV, PIV, Low current, Low leak  Id-Vg, Id-Vd, BV, QBD, Vt, Gm, SWI, Idsat, Ion, Ioff, SS, Rs, Rc, R2T, R4T, SPA, Conti, Cox, Tox, Beta, flash, NOR, NAND, ring oscillator  HP 4062, Agilent 4070, 4071A, 4072A, 4072B, 4073A, 4073B, 4080, 4082A, 4082F, 4770, 4771A, 4772A  3458A, 34470A, 4284A, E4980A, E4411B, N9000B,

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