量测面内画素与周边电路
量测面内画素与周边电路
客制化缺陷与MURA分析软件及报表格式
满足产线及实验室需求
全自动平行测试能力
针对产能、成本需求调整量测模块配置数量
搭配各式面板载台(prober)
Array Test, TFT陣列測試, LCD, OLED, Micro-OLED, LED, Mini-LED, Micro-LED, Mura, MEMS, TWS, CV HS-500, HS-100, Charge map