自動化量測系統整合簡介   


和瑞科技深耕自動化量測系統整合方案開發,主要分為 Keysight WAT 系統整合儀器系統整合兩大類。若您有各種元件電性參數測試 (WAT/CP) 的需求,歡迎隨時與我們交流討論。

方案一:Keysight WAT 系統整合

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因應通訊及電動車等市場蓬勃發展,越來越多晶圓廠需要在既有WAT執行功率元件或射頻元件之電性參數測試。產線標準的Keysight WAT機台規格有限制(200V、1MHz),無法滿足新應用測試需求。使用者因此考量建置新的特殊元件專用測試機。
  
新的專用機除了使用性侷限外、也需投資prober及尋找場地,對空間有限的廠區非常挑戰。新的平台也增加使用者的學習、維護及作業成本,影響生產力。若能在原有Keysight WAT機台上擴充功率元件或射頻元件之量測功能,晶圓廠可大幅節省設備投資及人員作業成本

方案二:Raytrex 41000 儀器系統整合

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當特殊元件之產能提升,或是並無既有WAT Tester可整合(如面板TEG或晶圓CP測試),使用者便需要一套獨立的專用Auto Tester。透過開發軟體完成自動化儀器系統整合測試方案。

WAT, 參數測試, CP, TEG, Parametric Test, 系統整合, Power Device, 功率元件, GaN, 氮化鎵, Sic, 碳化矽, IGBT, RF Device, 射頻元件, GaAs, 砷化𪿭, 化合物半導體, MEMS, TWS, 4062, 4070, 4071A, 4072A, 4072B, 4073A, 4073B, 4080, 4082A, 4082F, 4770, 4771A, 4772A  41000, Auto-HV, WAT-HV, Auto-RF, WAT-RF, Auto-Cal

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