量測面內畫素與周邊電路
量測面內畫素與周邊電路
客製化缺陷與MURA分析軟體及報表格式
滿足產線及實驗室需求
全自動平行測試能力
針對產能、成本需求調整量測模組配置數量
搭配各式面板載台(prober)
Array Test, TFT陣列測試, LCD, OLED, Micro-OLED, LED, Mini-LED, Micro-LED, Mura, MEMS, TWS, CV HS-500, HS-100, Charge map