關鍵字: 電性參數測試,IV,CV,QS-CV, package, wafer, prober,實驗室,生產線, 半導體, 面板, 記憶體, 離散元件, 功率元件
| 服務項目 |
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| ●4070/4080/4770系統諮詢
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| ●SPECS/RMB測試流程客制化
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| ●Test Plan及RMB量測程式(algo)撰寫及開發
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| ●IDM產品程式導入晶圓代工廠 (C to RMB)
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| ●WAT機台功能擴充 (外掛儀器整合)如WAT-HV, WAT-RF, WAT-HVCV等
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| ●WAT Server導入及專業服務
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| ●客制化資料處理程式 (adt, root, stdf)及log分析工具
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| ●測試問題分析及排除、data correlation
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| ●8吋WAT工廠自動化 (CIM)
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| ●探針台(prober)及探針卡(probe card)諮詢
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| ●WAT環境健檢及最佳化
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